更新時間：2023-10-18
LAP-S2000噴霧全自動激光粒度分析儀我公司視“打造國產穩定的激光粒度儀器"為己任，以科技創品牌、質量闖市場、信譽贏天下為方針，全力打造超穩定、高性價比的國產激光粒度儀器。
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LAP-S2000噴霧全自動激光粒度分析儀
我公司視“打造國產穩定的激光粒度儀器"為己任，以科技創品牌、質量闖市場、信譽贏天下為方針，全力打造超穩定、高性價比的國產激光粒度儀器。
LAP-S2000采用分體式設計，適用范圍更加寬泛。性能更加穩定、量程更大、適應各種復雜的測試環境，同時LAP-S2000進行了防塵處理。
LAP-S2000噴霧激光粒度分析儀主要性能特點：
LAP-S2000采用了分體式結構，可測試遠距離樣品， LAP-S2000采用了大平臺，即使一體式使用也能滿足0.1米到10米的距離上正常測試。
*的光路設計： LAP-S2000采用了夫瑯禾費衍射原理和典型的平行光路設計，配備了大功率的半導體激光器；*的高密度探測單元，讓LAP-S2000擁有了*的小顆粒測試能力，LAP-S2000在1μm～2000μm內無縫測試。同時LAP-S2000又加入了光路自動調整裝置，方便操作的同時又延長了儀器的適用壽命。
大功率半導體激光器：LAP-S2000采用了大功率的半導體激光器，增強了儀器的分辨能力，使小顆粒也無處藏身。
光路自動校對：LAP-S2000在噴霧粒度儀中加入了自動對中功能，LAP-S2000加入的光路自動調整系統，保證了儀器測量的穩定性、準確性。同時大量減少操作者的工作強度。
進口的鏡頭：LAP-S2000采用了日本佳能作為主鏡頭，畸變小成像高，接收端采用了直徑150毫米大口徑長焦距鏡頭，顆粒探測更加準確。
超寬量程：LAP-S2000量程達到了1μm～2000μm。
輔光定位：LAP-S2000加入了輔光定位功能，定位時發射端兩束激光同時發出，接收端雙點吻合后接收端即可啟動光路自動調整系統，大大簡化了調整難度。
強大的分析軟件：強大的分析軟件可以隨時記錄所有激光束的內所有霧滴的粒度分布。在激光束內移動噴霧測試結果可以被連續記錄和統計分析。
主要技術參數：
規格型號 | LAP-S2000 | |
執行標準 | ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008 | |
測試范圍 | 1μm-2000μm | |
探測器通道數 | 86 | |
準確性誤差 | <1%（國家標準樣品D50值） | |
重復性誤差 | <1%（國家標準樣品D50值） | |
進樣方式 | 開放式 | |
光路對中方式 | 自動對中，儀器自動調整光路，電腦軟件一鍵自動完成 | |
操作模式 | 軟件操作、自動測試 | |
儀器結構 | 分體式或導軌式可選 | |
分體式導軌（選配） | 分體式儀器，測試區域在6米以內可以選配導軌，光路更加穩定 | |
激光器參數 | LD泵浦激光器 λ= 532nm, 功率1-40mw可調 | |
關鍵參數 | 測量區 | 分體式：儀器0.1到10米范圍可正常測試 |
導軌式：儀器0.1到6米范圍可正常測試 | ||
鏡頭 | 進口佳能高性能鏡頭 | |
鏡頭保護 | 氣幕氣流式雙重保護 | |
進樣方式 | 噴射（包含霧滴和固體粉末） | |
操作模式 | 電腦操作 | |
尺寸 | 發射端尺寸：950*320*670 接收端尺寸：250*360*520 | |
測試速度 | <1min/次 | |
重量 | 25Kg | |
軟件功能 | |
分析模式 | 包括自由分布、R-R分布和對數正態分布、按目分級統計模式等，滿足不同行業對被測樣品粒度統計方式的不同要求 |
統計方式 | 體積分布和數量分布，以滿足不同行業對于粒度分布的不同統計方式 |
統計比較 | 可針對多條測試結果進行統計比較分析，可明顯對比不同批次樣品、加工前后樣品以及不同時間測試結果的差異，對工業原料質量控制具有很強的實際意義 |
自行DIY | 用戶自定義要顯示的數據，根據粒徑求百分比、根據百分比求粒徑或根據 |
顯示模板 | 粒徑區間求百分比，以滿足不同行業對粒度測試的表征方式。徑距、一致性、區間累積等等 |
測試報告 | 測試報告可導出Word、Excel、圖片（Bmp）和文本（Text）等多種形式的文檔，滿足在任何場合下查看測試報告以及科研文章中引用測試結果 |
多語言支持 | 中英文語言界面支持，還可根據用戶要求嵌入其他語言界面。 |
測試報告：
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